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儀器：
6.2.1. Spectrum analyzer: ADVANTEST /R3132量測範(fàn)圍由9KHz~3000MHz．
6.2.2 LISN: EMCO/ 3816-2,TYPE –1 ,9KHz-30MHz
6.3. 操作者需經(jīng)EMI室負(fù)責(zé)人授權(quán)允許之人員方可進(jìn)行測試，未授權(quán)允許之人員不得進(jìn)行操作．
6.4安全：
6.4.1. 電源需做標(biāo)示以免產(chǎn)生插錯(cuò)電源之狀況(如110V及220V標(biāo)示)．切換電壓前應(yīng)先將power cord拔出，再予切換.
6.4.2 需有滅火器備用．
6.4.3 測試儀器需檢查功能是否正常，及測試儀器需送CNLA認(rèn)可之校正實(shí)驗(yàn)室追溯．
6.5文件：
6.5.1. 法規(guī)：EN55022、CISPR22、CNS13438、FCC Part 15
6.5.2 儀器設(shè)備說明書
7．所要求的參考物質(zhì)和參考標(biāo)準(zhǔn)：
自選之參考品
8．描述程序：
A.PC.POWER SUPPLY
8.1.測試前準(zhǔn)備事項(xiàng)：
8.1.1. 檢查待測件識(shí)別標(biāo)誌是否與<試驗(yàn)通知單>相同，產(chǎn)品外觀是否完整．
8.1.2. 進(jìn)行待測件與儀器設(shè)備暖機(jī)及試機(jī)30分鐘．
8.1.3. 檢查待測件功能是否正常，儀器設(shè)備是否正常以自我校正做檢查.
8.2.測試程序：
8.2.1初測(Conduction)
a.測試時(shí)先將待測件按法規(guī)之規(guī)定安裝於測試桌上．(如圖一),輸出接Resistor dummy load或P.C系統(tǒng)
b.針對待測件功能之功能分別以(1)80% max .load(2)10 % max. load兩種負(fù)載做測試，以找出較差之負(fù)載模式．
*針對待測件功能之功能可以配P.C系統(tǒng)做測試，以找出較差之負(fù)載模式．
c. 測試結(jié)果 (1) 若數(shù)據(jù)較差，以此做Final測試．
8.2.2 Final測試(Conduction)
a. 測試時(shí)待測件以 1做測試，測試0.15KHz~0.5KHz、
0.5KHz~5MHz、5MHz~30MHz等三段測試．
測試時(shí)SPECTRUM以Peak Value做測試，測試數(shù)據(jù)如under Average Limit
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